Méthodologie d’optimisation de plan de test pour l’évaluation de la fiabilité de composants optoélectroniques

  • Posted on: 7 September 2017
  • By: admin
  • Updated on: 7 September 2017
Type rectrutement: 
Sujet de thèse
Entité et lieu: 
CEA Tech à Grenoble, CRAN UMR CNRS 7039, Université de Lorraine